测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:08-16 2024 来自:祥宇精密
祥宇影像测量仪在制造过程中,由于材料、加工工艺等方面的限制,不可避免地会产生一些误差。例如,机械部件的加工精度、装配精度等都会对测量结果产生影响。
测量仪器在出厂前都会经过严格的校准,但校准过程中也可能存在误差。校准设备的精度、校准方法的合理性等都会影响最终的测量结果。
随着使用时间的增加,测量仪器的一些零部件可能会出现老化现象,如机械部件的磨损、电子元件的老化等,这些都会导致测量误差的产生。
温度的变化会对测量仪器的性能产生显著影响。例如,金属材料的热胀冷缩会导致测量基准的变化,从而产生测量误差。
湿度过高或过低都可能影响测量仪器的正常工作。例如,湿度过高可能导致电子元件短路,湿度过低则容易产生静电,影响测量结果。
测量仪器在工作时需要一个稳定的环境,振动干扰会导致测量结果的不稳定。工厂中的机械设备、交通车辆等都可能产生振动,影响测量精度。
操作人员在使用测量仪器时,如果操作不当,也会导致测量误差。例如,输入错误的测量参数、误操作仪器等都会影响测量结果。
样品的准备工作也是影响测量结果的重要因素。例如,样品表面的清洁度、样品的放置位置等都会对测量结果产生影响。
测量结果的数据处理也是一个关键环节。操作人员在处理数据时,如果方法不当或者计算错误,都会导致最终结果的偏差。
不同的测量方法有不同的测量原理,每种原理都有其适用范围和局限性。例如,光学测量方法在某些情况下可能会受到光线折射、反射等因素的影响,从而产生误差。
测量过程中的每一个步骤都可能引入误差。例如,样品的定位、测量仪器的调整、数据的读取等都会对最终结果产生影响。
多次测量取平均值是一种减小随机误差的有效方法。如果测量次数不足,可能会导致结果的偶然性增大,从而产生误差。
400-801-9255